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  • LQ-TS耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱
    LQ-TS耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱

    耐冷熱交變實(shí)驗(yàn)箱與觸摸屏行業(yè)高低溫沖擊試驗(yàn)箱主要測試觸摸屏產(chǎn)品或觸摸屏行業(yè)相關(guān)的產(chǎn)品及零件等材料在在瞬間下經(jīng)高溫(熱沖擊)及低溫(冷沖擊)的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害??捎脕碜鲅邪l(fā)、生產(chǎn)、檢驗(yàn)、試驗(yàn)、實(shí)驗(yàn)用。

    更新時間:2024-04-07型號:LQ-TS
  • LQ-TS測試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱
    LQ-TS測試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱

    測試電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時間:2024-10-24型號:LQ-TS
  • LQ-TS冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱

    冷熱沖擊測試試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時間:2024-10-16型號:LQ-TS
  • LQ-TS玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS玻璃冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

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    更新時間:2024-10-11型號:LQ-TS
  • LQ-TS冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱

    冷熱沖擊溫度老化試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時間:2024-10-07型號:LQ-TS
  • LQ-TS冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

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    更新時間:2024-09-23型號:LQ-TS
  • LQ-TS戶外用品冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS戶外用品冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

    戶外用品冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱|半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制

    更新時間:2024-09-20型號:LQ-TS
  • LQ-TS10S冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱
    LQ-TS10S冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱

    10S冷熱沖擊溫度試驗(yàn)箱半導(dǎo)體冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)適用于半導(dǎo)體、電子電器零組件、化學(xué)材料、金屬材料、自動化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、及高分子材料之物理變化的理想測試設(shè)備。本設(shè)備可實(shí)際溫度定值或程序控制,柳沁采用 流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機(jī)制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%。制冷及電控關(guān)鍵零配件,使柳沁品牌的半導(dǎo)體冷熱沖

    更新時間:2024-09-18型號:LQ-TS
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